emcp转SD卡测试座,产品特性: 1、支持热拨插,可直接插读卡器与电脑连接测试 2、同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk等同样封装的moviNAND (需相应pin脚定义一样) 3、同时兼容... ...
tsop48测试座产品特点: 1.采用的双触点技术,接触更稳定。 2.座子外壳采用的工程塑料,强度高,寿命长。 3.弹片采用铍铜材料,阻小,弹性好。 4.采用放点电... ...
BGA测试座产品特点 ※采用手动翻盖式结构,操作方便; ※上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,IC的压力均匀,不移位; ※探针的头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触,而不会损坏锡球... ...
QFN8三温测试座根据客户提供的DFN芯片参数来设计测试座,会根据他的频率和温度要求来采用接地探针的数量,DFN8三温测试座特点及性能参数: ◆采用手动翻盖式结构,操作方便; ◆上盖的IC压板采用摆动式结构,下... ...
eMMC老化座产品特点: A、可直接插SD卡读卡器连接电脑,支持热拔插; B、同时兼容:东芝(TOSHIBA)、三星(SAMSUNG)、海力士(Hynix)、英特尔(Intel)、Sandisk等同样封装的moviNAND或iNAN... ...
tsop48电木座,针套座,针套板,底座产品特点采用电木材料,350度,起到的作用是转接固定,避免了一个个端子针去焊接,同时也不会因为焊接时间太长而导致测试板损坏,为客户节约了时间和成本 TSOP48测... ...
LGA测试座产品特点及性能参数: ※封装兼容设计,只要换座头,可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。 ※大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH; ... ...
eMMc测试座产品特点: ※兼容有球无球测试,IC限位框可更换,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广(支持尺寸:14mmX18mm); ※电压可调设计,同时具备过流保护功能,可以测试flash... ...
emcp手机测试治具采用的是双头探针结构,翻盖铝合金测试座,使用寿命8万次,兼容11.5*13,12*16,14*18,12*18的ic限位卡槽,可以维修,同时兼容测试eMMC和DDR,,保修三个月,提供手机就可以三天交货,... ...